测厚仪表 - 深圳宇问加壹传感系统有限公司

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EC-555S

EC-555S 在 EC-555 的基础上，升级了探头，其精度为±(2%+1μm)。相比 EC-555，EC-555S 的抗干扰能力更强，可在更复杂的电磁场环境中工作。

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EC-555SE 外置版

EC-555SE 为 EC-555S 的外置探头版本机型，其主机可搭配多种便于用户更换的分离式探头。相比 EC-555S，EC-555SE 更适合在狭小空间或流水线作业。

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EC-420

EC-420 测厚仪可无损测量金属表面非导电覆层的厚度，以及铁磁性金属（如铁、镍、钴等）表面非铁磁性金属覆层的厚度。

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EC-2000/EC-2000H 超声波测厚仪

应用超声波脉冲反射原理，用于测量超声波良导体材料，EC-2000-H应用更高精密的原理。EC-2000-H量程可达1000mm，精度±0.05mm/±0.5%，分辨率可达0.001...

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EC-970紧固件测厚仪

可搭配多种便于用户更换的分离式探头。测量时，用户只需将探头端快速贴合被测物表面，在探头往仪器内部收缩的过程中，仪器便可测量出涂镀层的厚度。

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铜箔分级测厚仪

仪器利用微电阻原理测量印刷电路板上的铜箔厚度，可用于PCB、CCL或FPC等表面铜箔厚度的检测。

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